Omni多角度粒度及高灵敏度Zeta电位分析仪结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技术，拥有15°，173°、90三个散射角度，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，硬件PALS技术*解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的测量。

型号：OMNI

更新日期：2024-10-21

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